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公司基本資料信息
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工業(yè)超聲波c掃描主要應(yīng)用范圍
晶元面處脫層 · 錫球、晶元、或填膠中之裂縫 · 晶元傾斜 · 各種可能之孔洞(晶元接合面、錫球、填膠…等) · 覆晶構(gòu)裝之分析 德國(guó)KSI聲掃描顯微鏡C-SAM(SAT)世界機(jī)器 WINSAM Vario III 聲掃描顯微鏡 1~500MHz ● 非破壞性材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)測(cè)試 ● 快速的超聲波頻率設(shè)置 ● 全新的操作軟件簡(jiǎn)單易用 ● 緊湊的模塊化設(shè)計(jì) ● 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè),材料測(cè)試,生命科學(xué)等領(lǐng)域 非破壞性失效分析: 視覺(jué)效果 定量分析 自動(dòng)控制 -3D形貌再現(xiàn) -同時(shí)觀察多個(gè)層面 -顯示樣品的機(jī)械性能(硬度,密度,壓力等) -實(shí)時(shí)超聲波飛時(shí)圖表(A-Scan) -縱向截面圖像(B-Scan) -XY圖像(C-Scan, D-Scan, 自動(dòng)掃描, 多層掃描) -第二個(gè)監(jiān)視器便于圖像的觀察和操作 -失效統(tǒng)計(jì) -柱狀圖顯示 -長(zhǎng)度測(cè)量 -膜厚測(cè)量 -多方式圖像處理 -超聲波傳輸時(shí)間測(cè)量 -無(wú)損傷深度測(cè)量 -數(shù)字信號(hào)分析 -相位測(cè)量 -自動(dòng)XYZ掃描 -自動(dòng)存儲(chǔ)儀器參數(shù) -運(yùn)用分層運(yùn)算方法進(jìn)行自動(dòng)失效鑒別 -自動(dòng)濾波參數(shù)設(shè)置 -換能器自動(dòng)聚焦 -高分辨率下自動(dòng)進(jìn)行高速掃描
磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)有哪些發(fā)展歷程?
磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)從發(fā)現(xiàn)到現(xiàn)在的應(yīng)用,經(jīng)歷了漫長(zhǎng)的發(fā)展歷程。
1842年,科學(xué)家James Prescott Joule發(fā)現(xiàn)了磁致伸縮效應(yīng)。這一發(fā)現(xiàn)為磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)的產(chǎn)生奠定了基礎(chǔ)。
1940年,磁致伸縮技術(shù)成功應(yīng)用于潛艇聲納測(cè)距系統(tǒng),這是磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)頭次在聲納領(lǐng)域得到應(yīng)用。
1960年,美國(guó)人Jack Tellerman向美國(guó)申請(qǐng)了磁致伸縮位移傳感器。這一發(fā)明標(biāo)志著磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)進(jìn)入了新的階段,并開(kāi)始在工業(yè)領(lǐng)域得到應(yīng)用。
進(jìn)入21世紀(jì),磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)得到了更廣泛的應(yīng)用,如用于非接觸位移、液位、轉(zhuǎn)速等測(cè)量。隨著科技的發(fā)展,磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)的性能和精度也不斷提高,成為了一種重要的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。
磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)介紹
磁致伸縮導(dǎo)波技術(shù)的遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)原理主要是利用導(dǎo)波在材料中傳播的特性。當(dāng)導(dǎo)波在材料中傳播時(shí),它們會(huì)攜帶有關(guān)材料狀態(tài)的信息,例如缺陷或變形的位置和大小。通過(guò)在材料的一端發(fā)射導(dǎo)波,并在另一端接收導(dǎo)波,可以確定導(dǎo)波傳播的時(shí)間,從而可以計(jì)算出導(dǎo)波傳播的距離。這樣,通過(guò)比較不同時(shí)間導(dǎo)波傳播的距離,可以確定材料在特定時(shí)間段內(nèi)的變形或損傷情況。