廣西3D顯微鏡生產廠家承諾守信 蘇州特斯特公司[蘇州特斯特31ff5f9]內容：EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測器，可偵測組件中電子－電洞再結合時所發射出來的光子，其光波長在 350 nm ~ 1100 nm，此范圍相當于可見光和紅外光區。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務，產品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。

其實利用在檢測芯片的過程當中，其實這種方法是非常有效的，關于emmi分析國內目前的技術通常已經達到了要求，在對芯片進行檢測過程當中，利用微光顯微鏡它的效果通常是非常明顯的。比如說如果說亮點被遮掩的過程當中采用的是利用境外紅波的發光，通過拋光的處理來進行探測，這樣才能夠有效的去發現金屬歸沉寂的有效缺陷。

（超聲波掃描顯微鏡)無損檢測

超聲掃描顯微鏡是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測設備。在工作中采用反射或者透射等掃描方式來檢查材料內部的晶格結構，雜質顆粒、夾雜物、沉淀物、內部裂紋、分層缺陷、空洞、氣泡、空隙等。< br />< br />著作權歸作者所有。

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EMMI微光顯微鏡

微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會放出光子（Photon）。如在P-N結加偏壓，此時N阱的電子很容易擴散到P阱，而P的空穴也容易擴散至N，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點定位、尋找近紅外波段發光點等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.